学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审
液体金属イオン源、二次粒子質量分析計および二次粒子質量分析方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20100530313
申请日
:
2008-10-16
公开(公告)号
:
JP5611046B2
公开(公告)日
:
2014-10-22
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J27/26
IPC分类号
:
H01J37/252
H01J37/317
H01J49/26
H01J49/40
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
多孔質二次粒子における一次粒子の評価方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7589491B2
,2024-11-26
[2]
走査イオン顕微鏡および二次粒子制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5896708B2
,2016-03-30
[3]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2019505965A
,2019-02-28
[4]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP2019509585A
,2019-04-04
[5]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP6958918B2
,2021-11-02
[6]
質量分析計または他の荷電粒子装置で用いる荷電二次粒子抽出システム[ja]
[P].
日本专利
:JP7123397B2
,2022-08-23
[7]
多孔質二次粒子の開口部の評価方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022127593A
,2022-08-31
[8]
遷移金属複合水酸化物の粒子、リチウムイオン二次電池用正極活物質、およびリチウムイオン二次電池[ja]
[P].
KATO TOSHIHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SUMITOMO METAL MINING CO
SUMITOMO METAL MINING CO
KATO TOSHIHIRO
;
AIDA TAIRA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SUMITOMO METAL MINING CO
SUMITOMO METAL MINING CO
AIDA TAIRA
;
TAKAHASHI TATSUYA
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SUMITOMO METAL MINING CO
SUMITOMO METAL MINING CO
TAKAHASHI TATSUYA
;
SUGANUMA SHINSUKE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SUMITOMO METAL MINING CO
SUMITOMO METAL MINING CO
SUGANUMA SHINSUKE
.
日本专利
:JP2024086748A
,2024-06-28
[9]
遷移金属複合水酸化物の粒子、リチウムイオン二次電池用正極活物質、およびリチウムイオン二次電池[ja]
[P].
日本专利
:JP2022161973A
,2022-10-21
[10]
活物質二次粒子、負極合材、これらの製造方法、及び、二次電池[ja]
[P].
日本专利
:JP7700776B2
,2025-07-01
←
1
2
3
4
5
→