液体金属イオン源、二次粒子質量分析計および二次粒子質量分析方法[ja]

被引:0
申请号
JP20100530313
申请日
2008-10-16
公开(公告)号
JP5611046B2
公开(公告)日
2014-10-22
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01J27/26
IPC分类号
H01J37/252 H01J37/317 H01J49/26 H01J49/40
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
多孔質二次粒子における一次粒子の評価方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7589491B2 ,2024-11-26
[2]
走査イオン顕微鏡および二次粒子制御方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5896708B2 ,2016-03-30
[7]
多孔質二次粒子の開口部の評価方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2022127593A ,2022-08-31
[8]
遷移金属複合水酸化物の粒子、リチウムイオン二次電池用正極活物質、およびリチウムイオン二次電池[ja] [P]. 
KATO TOSHIHIRO ;
AIDA TAIRA ;
TAKAHASHI TATSUYA ;
SUGANUMA SHINSUKE .
日本专利 :JP2024086748A ,2024-06-28