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X線蛍光分析装置及びそれに用いられるサンプル容器[ja]
被引:0
申请号
:
JP20170098486
申请日
:
2017-05-17
公开(公告)号
:
JP6863069B2
公开(公告)日
:
2021-04-21
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N23/2204
IPC分类号
:
G01N23/223
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
蛍光X線分析装置およびそれに用いられる治具[ja]
[P].
NAKAO TAKAMI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
SHIMADZU CORP
SHIMADZU CORP
NAKAO TAKAMI
.
日本专利
:JP2024147324A
,2024-10-16
[2]
蛍光X線分析装置およびそれに用いられる電源装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2025161330A
,2025-10-24
[3]
蛍光X線分析装置及びそれに用いられるスペクトル表示方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2017006383A1
,2018-04-19
[4]
蛍光X線分析装置及びそれに用いられるスペクトル表示方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6493531B2
,2019-04-03
[5]
蛍光X線分析用の較正試料ならびにそれを備える蛍光X線分析装置およびそれを用いる蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5938708B2
,2016-06-22
[6]
波長分散型蛍光X線分析装置およびそれを用いる蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018061608A1
,2019-03-07
[7]
波長分散型蛍光X線分析装置およびそれを用いる蛍光X線分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6574959B2
,2019-09-18
[8]
分析装置及びこれに用いられるオートサンプラ[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015083218A1
,2017-03-16
[9]
分析装置及びこれに用いられるオートサンプラ[ja]
[P].
日本专利
:JP6128234B2
,2017-05-17
[10]
蛍光X線分析方法及び蛍光X線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5975181B2
,2016-08-23
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