共 50 条
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電子部品の高周波電気特性測定方法および装置、高周波電気特性測定装置の校正方法[ja]
被引：0
申请号：
JP20060512253
申请日：
2004-12-21
公开(公告)号：
JPWO2005101034A1
公开(公告)日：
2008-03-06
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01R27/28
IPC分类号：
G01R27/04
G01R27/26
G01R27/32
G01R31/28
G01R35/00
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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