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電子部品の電気特性測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20070537568
申请日
:
2006-09-12
公开(公告)号
:
JPWO2007037116A1
公开(公告)日
:
2009-04-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01R27/28
IPC分类号
:
G01R35/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
電子部品の特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5673819B2
,2015-02-18
[2]
電子部品の特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2012173093A1
,2015-02-23
[3]
電子部品の電気特性測定用基板及びこれを用いた電子部品の電気特性測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2022105348A
,2022-07-14
[4]
電子部品の電気的特性測定方法および電気的特性測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6436321B2
,2018-12-12
[5]
電子部品の電気的特性測定方法および電気的特性測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016163229A1
,2018-01-18
[6]
電子部品装置の電気的特性測定方法、電子部品装置の選別方法および電気的特性測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6772988B2
,2020-10-21
[7]
電子部品の高周波電気特性測定方法および装置、高周波電気特性測定装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005101035A1
,2008-03-06
[8]
電子部品の高周波電気特性測定方法および装置、高周波電気特性測定装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005101033A1
,2008-03-06
[9]
電子部品の高周波電気特性測定方法および装置、高周波電気特性測定装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005101034A1
,2008-03-06
[10]
電子部品の測定装置及び電子部品の測定装置を用いた電子部品の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6994743B1
,2022-01-14
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