電子式遮断要素、特に接触器の劣化を決定するための方法及び装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20160516974

申请日：

2014-09-09

公开(公告)号：

JP2016535564A

公开(公告)日：

2016-11-10

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

H02J7/00

IPC分类号：

H01M10/48

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法律状态信息

共 50 条

[1]

電子式遮断要素、特に接触器の劣化を決定するための方法及び装置[ja] [P].

日本专利 :JP6185658B2 ,2017-08-23

[2]

電力接触器、及び、電力接触器の機能検査のための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2019503035A ,2019-01-31

[3]

接触器のヘルスの状態を監視するための方法及び装置[ja] [P].

日本专利 :JP2023516985A ,2023-04-21

[4]

接触器のヘルスの状態を監視するための方法及び装置[ja] [P].

PATRICK ASSMANN ;

MICHAEL ZEILBECK ;

ANDREAS HEIZER ;

MARC HARTEMEYER ;

PIRMIN STUTZ .

日本专利 :JP2025013817A ,2025-01-28

[5]

接触器、集積回路、電流の流れを遮断する方法[ja] [P].

日本专利 :JP7788879B2 ,2025-12-19

[6]

電磁接触器の温度の評価方法およびその方法を実施する接触器[ja] [P].

日本专利 :JP6005490B2 ,2016-10-12

[7]

電気接触器及びかかる接触器の制御方法[ja] [P].

日本专利 :JP2016523437A ,2016-08-08

[8]

電気接触器及びかかる接触器の制御方法[ja] [P].

日本专利 :JP6419801B2 ,2018-11-07

[9]

電磁接触器及び電磁接触器の組立方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2016046946A1 ,2017-04-27

[10]

電磁接触器及び電磁接触器の組立方法[ja] [P].

日本专利 :JP7521513B2 ,2024-07-24

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