接触器のヘルスの状態を監視するための方法及び装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20220552476

申请日：

2021-03-12

公开(公告)号：

JP2023516985A

公开(公告)日：

2023-04-21

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01R31/50

IPC分类号：

H01M10/48 H02H7/18 H02J7/00

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共 50 条

[1]

接触器のヘルスの状態を監視するための方法及び装置[ja] [P].

PATRICK ASSMANN ;

MICHAEL ZEILBECK ;

ANDREAS HEIZER ;

MARC HARTEMEYER ;

PIRMIN STUTZ .

日本专利 :JP2025013817A ,2025-01-28

[2]

半導体接触器、半導体接触器用状態監視装置及び半導体接触器の状態監視方法[ja] [P].

日本专利 :JP7476818B2 ,2024-05-01

[3]

過渡状態下の接触器／リレー接点バウンスを処理するための方法及び装置[ja] [P].

日本专利 :JP2024523716A ,2024-06-28

[4]

接触器装置、配電パネル、および接触器の健全性を監視する方法[ja] [P].

日本专利 :JP7000194B2 ,2022-01-19

[5]

接触器の動作状態の診断方法、および前記方法を実行する接触器[ja] [P].

日本专利 :JP6026217B2 ,2016-11-16

[6]

電力接触器、及び、電力接触器の機能検査のための方法[ja] [P].

日本专利 :JP2019503035A ,2019-01-31

[7]

電磁接触器の温度の評価方法およびその方法を実施する接触器[ja] [P].

日本专利 :JP6005490B2 ,2016-10-12

[8]

電子式遮断要素、特に接触器の劣化を決定するための方法及び装置[ja] [P].

日本专利 :JP6185658B2 ,2017-08-23

[9]

電子式遮断要素、特に接触器の劣化を決定するための方法及び装置[ja] [P].

日本专利 :JP2016535564A ,2016-11-10

[10]

接触器、その故障検知方法、及び接触器の製造方法[ja] [P].

日本专利 :JP7389914B2 ,2023-11-30

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