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表面硬化層の測定方法及び測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20120534059
申请日
:
2011-09-16
公开(公告)号
:
JPWO2012036258A1
公开(公告)日
:
2014-02-03
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N29/00
IPC分类号
:
G01N29/44
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
硬化層深さ測定装置及び硬化層深さ測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6662575B2
,2020-03-11
[2]
表面測定装置及び表面測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7014338B1
,2022-02-01
[3]
表面測定装置及び表面測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7284562B2
,2023-05-31
[4]
表面測定装置及び表面測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6841109B2
,2021-03-10
[5]
表面形状の測定方法及び測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5733910B2
,2015-06-10
[6]
表面物性の測定方法及び測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5622266B2
,2014-11-12
[7]
硬化度測定装置及び硬化度測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6417906B2
,2018-11-07
[8]
断層測定装置及び断層測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5854396B2
,2016-02-09
[9]
被測定物の表面測定装置およびその表面測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6079664B2
,2017-02-15
[10]
表面形状測定装置及び表面形状測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5649926B2
,2015-01-07
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