表面硬化層の測定方法及び測定装置[ja]

被引:0
申请号
JP20120534059
申请日
2011-09-16
公开(公告)号
JPWO2012036258A1
公开(公告)日
2014-02-03
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N29/00
IPC分类号
G01N29/44
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
硬化層深さ測定装置及び硬化層深さ測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6662575B2 ,2020-03-11
[2]
表面測定装置及び表面測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7014338B1 ,2022-02-01
[3]
表面測定装置及び表面測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7284562B2 ,2023-05-31
[4]
表面測定装置及び表面測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6841109B2 ,2021-03-10
[5]
表面形状の測定方法及び測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5733910B2 ,2015-06-10
[6]
表面物性の測定方法及び測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5622266B2 ,2014-11-12
[7]
硬化度測定装置及び硬化度測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6417906B2 ,2018-11-07
[8]
断層測定装置及び断層測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5854396B2 ,2016-02-09
[9]
[10]
表面形状測定装置及び表面形状測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5649926B2 ,2015-01-07