測定装置、顕微鏡、及び測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20170563360
申请日
2017-08-04
公开(公告)号
JPWO2018047547A1
公开(公告)日
2018-09-06
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01J1/02
IPC分类号
G02B3/04 G02B21/00 G02B21/36
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
測定装置、顕微鏡、及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6485847B2 ,2019-03-20
[2]
顕微鏡画像測定装置及び顕微鏡画像測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7687647B2 ,2025-06-03
[3]
波面測定方法、波面測定装置および顕微鏡[ja] [P]. 
日本专利 :JP5642411B2 ,2014-12-17
[4]
光学顕微鏡、及び分光測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7008974B2 ,2022-01-25
[5]
光学顕微鏡、及び分光測定方法[ja] [P]. 
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[6]
多光子顕微鏡測定方法及び装置[ja] [P]. 
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[7]
顕微分光測定装置及び顕微分光測定方法[ja] [P]. 
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[8]
測定方法および電子顕微鏡[ja] [P]. 
日本专利 :JP6429677B2 ,2018-11-28
[9]
測定方法および電子顕微鏡[ja] [P]. 
日本专利 :JP6962757B2 ,2021-11-05
[10]
測定方法および電子顕微鏡[ja] [P]. 
日本专利 :JP7736589B2 ,2025-09-09