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測定装置、顕微鏡、及び測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20170563360
申请日
:
2017-08-04
公开(公告)号
:
JPWO2018047547A1
公开(公告)日
:
2018-09-06
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01J1/02
IPC分类号
:
G02B3/04
G02B21/00
G02B21/36
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
測定装置、顕微鏡、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6485847B2
,2019-03-20
[2]
顕微鏡画像測定装置及び顕微鏡画像測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7687647B2
,2025-06-03
[3]
波面測定方法、波面測定装置および顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP5642411B2
,2014-12-17
[4]
光学顕微鏡、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7008974B2
,2022-01-25
[5]
光学顕微鏡、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5838466B2
,2016-01-06
[6]
多光子顕微鏡測定方法及び装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2020522757A
,2020-07-30
[7]
顕微分光測定装置及び顕微分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5663850B2
,2015-02-04
[8]
測定方法および電子顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP6429677B2
,2018-11-28
[9]
測定方法および電子顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP6962757B2
,2021-11-05
[10]
測定方法および電子顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP7736589B2
,2025-09-09
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