光学顕微鏡、及び分光測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20110054538
申请日
2011-03-11
公开(公告)号
JP5838466B2
公开(公告)日
2016-01-06
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G02B21/00
IPC分类号
G01N21/64 G01N21/65
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
光学顕微鏡、及び分光測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7008974B2 ,2022-01-25
[2]
顕微鏡画像測定装置及び顕微鏡画像測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7687647B2 ,2025-06-03
[3]
測定装置、顕微鏡、及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2018047547A1 ,2018-09-06
[4]
測定装置、顕微鏡、及び測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6485847B2 ,2019-03-20
[5]
顕微分光測定装置及び顕微分光測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5663850B2 ,2015-02-04
[6]
ラマン顕微鏡、及びラマン分光測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6051397B2 ,2016-12-27
[7]
多光子顕微鏡測定方法及び装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2020522757A ,2020-07-30
[8]
光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5712342B2 ,2015-05-07
[9]
測定方法および電子顕微鏡[ja] [P]. 
日本专利 :JP7736589B2 ,2025-09-09
[10]
測定方法および電子顕微鏡[ja] [P]. 
日本专利 :JP6429677B2 ,2018-11-28