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光学顕微鏡、及び分光測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20110054538
申请日
:
2011-03-11
公开(公告)号
:
JP5838466B2
公开(公告)日
:
2016-01-06
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G02B21/00
IPC分类号
:
G01N21/64
G01N21/65
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[21]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019234842A1
,2021-05-13
[22]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6679959B2
,2020-04-15
[23]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6747672B2
,2020-08-26
[24]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5944843B2
,2016-07-05
[25]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7238541B2
,2023-03-14
[26]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7283190B2
,2023-05-30
[27]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7761378B2
,2025-10-28
[28]
電子顕微鏡像の歪み測定方法および電子顕微鏡[ja]
[P].
日本专利
:JP6851262B2
,2021-03-31
[29]
分光測定装置及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6943618B2
,2021-10-06
[30]
分光測定装置、及び分光測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5895414B2
,2016-03-30
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