光学顕微鏡、及び分光測定方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20110054538

申请日：

2011-03-11

公开(公告)号：

JP5838466B2

公开(公告)日：

2016-01-06

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G02B21/00

IPC分类号：

G01N21/64 G01N21/65

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法律状态信息

共 50 条

[41]

顕微鏡システムおよび測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6249681B2 ,2017-12-20

[42]

収差測定方法および電子顕微鏡[ja] [P].

日本专利 :JP7267319B2 ,2023-05-01

[43]

走査電子顕微鏡および測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6954848B2 ,2021-10-27

[44]

共焦点顕微鏡、光学式高さ測定方法及び自動合焦方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2002068903A1 ,2004-06-24

[45]

分光測定システム及び分光測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5970340B2 ,2016-08-17

[46]

分光器及び測定方法[ja] [P].

SUZUKI DAIKI ;

MASE MITSUTO ;

WARASHINA YOSHIHISA ;

OGURI AKIHIRO ;

EZUKA WATARU ;

SUGIYAMA HAYATO ;

NOZAKI SHIN .

日本专利 :JP2025109443A ,2025-07-25

[47]

顕微鏡装置、顕微鏡装置の試料屈折率測定方法、および顕微鏡装置の試料屈折率測定プログラム[ja] [P].

日本专利 :JP7380906B2 ,2023-11-15

[48]

広がり抵抗測定方法及び広がり抵抗顕微鏡[ja] [P].

日本专利 :JP6584113B2 ,2019-10-02

[49]

力プローブ顕微鏡及び高さ分布測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2014006734A1 ,2016-06-02

[50]

走査プローブ顕微鏡、測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP7129099B2 ,2022-09-01

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