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走査反射鏡振幅測定装置及び測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190501601
申请日
:
2017-07-27
公开(公告)号
:
JP2019531495A
公开(公告)日
:
2019-10-31
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G02B26/10
IPC分类号
:
G01M11/00
G03F7/20
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
走査反射鏡振幅測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6807448B2
,2021-01-06
[2]
走査測定方法及び走査測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7516728B2
,2024-07-17
[3]
測定方法、測定装置、及び検査方法[ja]
[P].
SHIOIRI AKIHIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HIOKI ELECTRIC WORKS
HIOKI ELECTRIC WORKS
SHIOIRI AKIHIRO
;
KOIKE SHINICHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HIOKI ELECTRIC WORKS
HIOKI ELECTRIC WORKS
KOIKE SHINICHI
;
SON I
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
HIOKI ELECTRIC WORKS
HIOKI ELECTRIC WORKS
SON I
.
日本专利
:JP2024145364A
,2024-10-15
[4]
測定装置、顕微鏡、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018047547A1
,2018-09-06
[5]
測定装置、顕微鏡、及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6485847B2
,2019-03-20
[6]
振幅測定装置、及び、振幅測定装置における振動測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018134932A1
,2019-08-08
[7]
振幅測定装置、及び、振幅測定装置における振動測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6791269B2
,2020-11-25
[8]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013084621A1
,2015-04-27
[9]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015198472A1
,2017-05-25
[10]
測定装置及び測定方法[ja]
[P].
TSUSHIMA TAKEO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO SEIMITSU CO LTD
TOKYO SEIMITSU CO LTD
TSUSHIMA TAKEO
;
IWAKI SATOSHI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO SEIMITSU CO LTD
TOKYO SEIMITSU CO LTD
IWAKI SATOSHI
.
日本专利
:JP2024101849A
,2024-07-30
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