X線CT装置により得られる投影像を用いた寸法測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20180127917
申请日
2018-07-04
公开(公告)号
JP7154535B2
公开(公告)日
2022-10-18
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01B15/02
IPC分类号
G01N23/046
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[3]
X線蛍光を用いた測定対象の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6462389B2 ,2019-01-30
[5]
拡張現実による寸法測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7457339B2 ,2024-03-28
[6]
X線回折による高分子測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2023075325A ,2023-05-30
[8]
内径測定装置およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7077098B2 ,2022-05-30
[9]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja] [P]. 
KANAI KENJIRO .
日本专利 :JP2022079608A ,2022-05-26
[10]
歪測定部品およびこれを用いた歪測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6682176B2 ,2020-04-15