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X線CT装置により得られる投影像を用いた寸法測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20180127917
申请日
:
2018-07-04
公开(公告)号
:
JP7154535B2
公开(公告)日
:
2022-10-18
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01B15/02
IPC分类号
:
G01N23/046
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
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法律状态信息
共 50 条
[1]
X線CTのCTDI測定方法、そのための線量計保持治具、及び、これを用いたX線CTのCTDI測定方法、装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7181576B2
,2022-12-01
[2]
計測用X線CT装置の校正方法、測定方法、及び、計測用X線CT装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7330033B2
,2023-08-21
[3]
X線蛍光を用いた測定対象の測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6462389B2
,2019-01-30
[4]
X線回折測定装置およびX線回折測定装置による測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6037237B2
,2016-12-07
[5]
拡張現実による寸法測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7457339B2
,2024-03-28
[6]
X線回折による高分子測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2023075325A
,2023-05-30
[7]
免疫測定方法及びそれに用いられる免疫測定用キット[ja]
[P].
日本专利
:JP6672353B2
,2020-03-25
[8]
内径測定装置およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7077098B2
,2022-05-30
[9]
光学式測定器およびそれを用いた測定方法[ja]
[P].
KANAI KENJIRO
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
TOKYO SEIMITSU CO LTD
KANAI KENJIRO
.
日本专利
:JP2022079608A
,2022-05-26
[10]
歪測定部品およびこれを用いた歪測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6682176B2
,2020-04-15
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