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テストパターン生成装置,テストパターン生成方法およびテストパターン生成プログラム[ja]
被引:0
申请号
:
JP20110169010
申请日
:
2011-08-02
公开(公告)号
:
JP5794027B2
公开(公告)日
:
2015-10-14
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01R31/3183
IPC分类号
:
G06F17/50
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
テストパターン生成方法、テストパターン生成プログラム、およびテストパターン生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6365273B2
,2018-08-01
[2]
テストパターン生成プログラム、テストパターン生成装置及びテストパターン生成方法[ja]
[P].
MARUYAMA DAISUKE
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
FUJITSU LTD
FUJITSU LTD
MARUYAMA DAISUKE
.
日本专利
:JP2024010862A
,2024-01-25
[3]
テストパタン生成装置及びテストパタン生成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6686769B2
,2020-04-22
[4]
テストパターン生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6923569B2
,2021-08-18
[5]
試験方法、テストパターン生成方法、試験装置、テストパターン生成装置及びプログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6217383B2
,2017-10-25
[6]
テストデータ生成プログラム、テストデータ生成方法、およびテストデータ生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6205965B2
,2017-10-04
[7]
テストデータ生成プログラム,テストデータ生成装置およびテストデータ生成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5884652B2
,2016-03-15
[8]
テストデータ生成プログラム、テストデータ生成方法、およびテストデータ生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6102425B2
,2017-03-29
[9]
テストデータ生成装置、テストデータ生成プログラムおよびテストデータ生成方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5799823B2
,2015-10-28
[10]
テストデータ生成プログラム、テストデータ生成方法、テストデータ生成装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5673395B2
,2015-02-18
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