共 50 条
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試験方法、テストパターン生成方法、試験装置、テストパターン生成装置及びプログラム[ja]
被引：0
申请号：
JP20130266049
申请日：
2013-12-24
公开(公告)号：
JP6217383B2
公开(公告)日：
2017-10-25
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01R31/3183
IPC分类号：
G06F17/50
代理机构：
代理人：
法律状态：
国省代码：
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法律状态
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