分析チップ、及び分析装置[ja]

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申请号
JP20140536551
申请日
2013-04-05
公开(公告)号
JPWO2014045482A1
公开(公告)日
2016-08-18
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N35/08
IPC分类号
G01N27/447 G01N37/00
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
分析チップ、及び分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6056865B2 ,2017-01-11
[2]
分析チップ及び試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6723409B2 ,2020-07-15
[3]
偏光分析装置、及び偏光分析チップ[ja] [P]. 
日本专利 :JP7517648B2 ,2024-07-17
[4]
分析チップ及び試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6557656B2 ,2019-08-07
[5]
分析チップ及び試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015174429A1 ,2017-04-20
[6]
流体チップ及び分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2019203201A1 ,2020-04-30
[7]
分析チップおよび分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2004036194A1 ,2006-02-16
[8]
分析チップおよび分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2008139867A1 ,2010-07-29
[9]
分析チップおよび分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2016117570A1 ,2017-10-26
[10]
分析素子チップ[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011155179A1 ,2013-08-01