偏光分析装置、及び偏光分析チップ[ja]

被引:0
申请号
JP20210528168
申请日
2020-06-12
公开(公告)号
JP7517648B2
公开(公告)日
2024-07-17
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N21/01
IPC分类号
B82Y20/00 C01B32/158 G01N21/19 G01N21/21
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
偏光分析装置及び偏光分析装置の制御方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7174528B2 ,2022-11-17
[2]
分析チップ、及び分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6056865B2 ,2017-01-11
[3]
分析チップ、及び分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2014045482A1 ,2016-08-18
[4]
偏光分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015174332A1 ,2017-04-20
[5]
偏光分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6543826B2 ,2019-07-17
[6]
分析チップ及び試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6723409B2 ,2020-07-15
[7]
分析チップ及び試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6557656B2 ,2019-08-07
[8]
分析チップ及び試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015174429A1 ,2017-04-20
[9]
流体チップ及び分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2019203201A1 ,2020-04-30
[10]
分析チップおよび分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2004036194A1 ,2006-02-16