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偏光分析装置、及び偏光分析チップ[ja]
被引:0
申请号
:
JP20210528168
申请日
:
2020-06-12
公开(公告)号
:
JP7517648B2
公开(公告)日
:
2024-07-17
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N21/01
IPC分类号
:
B82Y20/00
C01B32/158
G01N21/19
G01N21/21
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
偏光分析装置及び偏光分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7174528B2
,2022-11-17
[2]
分析チップ、及び分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6056865B2
,2017-01-11
[3]
分析チップ、及び分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014045482A1
,2016-08-18
[4]
偏光分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015174332A1
,2017-04-20
[5]
偏光分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6543826B2
,2019-07-17
[6]
分析チップ及び試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6723409B2
,2020-07-15
[7]
分析チップ及び試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6557656B2
,2019-08-07
[8]
分析チップ及び試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015174429A1
,2017-04-20
[9]
流体チップ及び分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019203201A1
,2020-04-30
[10]
分析チップおよび分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2004036194A1
,2006-02-16
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