偏光分析装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20160519229

申请日：

2015-05-08

公开(公告)号：

JP6543826B2

公开(公告)日：

2019-07-17

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N21/64

IPC分类号：

G01N33/542 G02F1/13

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法律状态信息

共 50 条

[1]

偏光分析装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2015174332A1 ,2017-04-20

[2]

偏光分析装置、及び偏光分析チップ[ja] [P].

日本专利 :JP7517648B2 ,2024-07-17

[3]

偏光分析装置及び偏光分析装置の制御方法[ja] [P].

日本专利 :JP7174528B2 ,2022-11-17

[4]

偏光画像取得装置及び熱分析装置[ja] [P].

FUJIWARA HIROTO ;

YAMAZAKI RYOKUHEI .

日本专利 :JP2024052449A ,2024-04-11

[5]

偏光显微图像自动采集分析装置 [P].

何海波 ;

王松 ;

龚剑 ;

张豫堃 ;

张余强 .

中国专利 :CN103439781A ,2013-12-11

[6]

偏光显微图像自动采集分析装置 [P].

何海波 ;

王松 ;

龚剑 ;

张豫堃 ;

张余强 .

中国专利 :CN203444153U ,2014-02-19

[7]

円偏光照射器、分析装置及び顕微鏡[ja] [P].

日本专利 :JP6784396B2 ,2020-11-11

[8]

円偏光照射器、分析装置及び顕微鏡[ja] [P].

日本专利 :JP7749245B2 ,2025-10-06

[9]

分析装置、分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP6741629B2 ,2020-08-19

[10]

分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP5772886B2 ,2015-09-02

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