偏光画像取得装置及び熱分析装置[ja]

被引:0
申请号
JP20220159164
申请日
2022-10-01
公开(公告)号
JP2024052449A
公开(公告)日
2024-04-11
发明(设计)人
FUJIWARA HIROTO YAMAZAKI RYOKUHEI
申请人
HITACHI HIGH TECH SCIENCE CORP
申请人地址
IPC主分类号
G01N25/20
IPC分类号
G02B21/30
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
熱分析装置、及び熱分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5933653B2 ,2016-06-15
[3]
偏光分析装置、及び偏光分析チップ[ja] [P]. 
日本专利 :JP7517648B2 ,2024-07-17
[4]
偏光分析装置及び偏光分析装置の制御方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7174528B2 ,2022-11-17
[5]
熱分析装置の制御部、及び熱分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7407020B2 ,2023-12-28
[6]
顔画像分析装置及び顔画像分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6008698B2 ,2016-10-19
[7]
肌画像分析装置及び肌画像分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5753055B2 ,2015-07-22
[8]
顔画像分析方法及び顔画像分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6346789B2 ,2018-06-20
[9]
肌画像分析装置及び肌画像分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6118082B2 ,2017-04-19
[10]
偏光分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015174332A1 ,2017-04-20