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偏光画像取得装置及び熱分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20220159164
申请日
:
2022-10-01
公开(公告)号
:
JP2024052449A
公开(公告)日
:
2024-04-11
发明(设计)人
:
FUJIWARA HIROTO
YAMAZAKI RYOKUHEI
申请人
:
HITACHI HIGH TECH SCIENCE CORP
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N25/20
IPC分类号
:
G02B21/30
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
熱分析装置、及び熱分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5933653B2
,2016-06-15
[2]
熱画像装置、分析装置および熱画像撮影方法、分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2016520836A
,2016-07-14
[3]
偏光分析装置、及び偏光分析チップ[ja]
[P].
日本专利
:JP7517648B2
,2024-07-17
[4]
偏光分析装置及び偏光分析装置の制御方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7174528B2
,2022-11-17
[5]
熱分析装置の制御部、及び熱分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7407020B2
,2023-12-28
[6]
顔画像分析装置及び顔画像分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6008698B2
,2016-10-19
[7]
肌画像分析装置及び肌画像分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5753055B2
,2015-07-22
[8]
顔画像分析方法及び顔画像分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6346789B2
,2018-06-20
[9]
肌画像分析装置及び肌画像分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6118082B2
,2017-04-19
[10]
偏光分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015174332A1
,2017-04-20
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