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試料ホルダ及び真空分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20150551345
申请日
:
2013-12-05
公开(公告)号
:
JPWO2015083270A1
公开(公告)日
:
2017-03-16
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J37/20
IPC分类号
:
G01N1/00
G01N1/28
H01J37/285
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
試料ホルダ及び真空分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6140298B2
,2017-05-31
[2]
試料ホルダ、試料室及びX線分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6077812B2
,2017-02-08
[3]
試料ホルダ[ja]
[P].
日本专利
:JP3241595U
,2023-04-14
[4]
熱分析装置、試料ホルダ組立体及び熱分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6792040B1
,2020-11-25
[5]
X線分析装置用試料ホルダ[ja]
[P].
日本专利
:JP2023540009A
,2023-09-21
[6]
X線分析装置用試料ホルダ[ja]
[P].
日本专利
:JP7745625B2
,2025-09-29
[7]
固体生体試料の分析用試料ホルダ[ja]
[P].
日本专利
:JP2016524132A
,2016-08-12
[8]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7267360B2
,2023-05-01
[9]
試料分析装置及び試料分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2013099648A1
,2015-05-07
[10]
試料分析方法及び試料分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2025002086A
,2025-01-09
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