試料ホルダ及び真空分析装置[ja]

被引:0
申请号
JP20150551345
申请日
2013-12-05
公开(公告)号
JPWO2015083270A1
公开(公告)日
2017-03-16
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01J37/20
IPC分类号
G01N1/00 G01N1/28 H01J37/285
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
試料ホルダ及び真空分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6140298B2 ,2017-05-31
[2]
試料ホルダ、試料室及びX線分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6077812B2 ,2017-02-08
[3]
試料ホルダ[ja] [P]. 
日本专利 :JP3241595U ,2023-04-14
[4]
[5]
X線分析装置用試料ホルダ[ja] [P]. 
日本专利 :JP2023540009A ,2023-09-21
[6]
X線分析装置用試料ホルダ[ja] [P]. 
日本专利 :JP7745625B2 ,2025-09-29
[7]
固体生体試料の分析用試料ホルダ[ja] [P]. 
日本专利 :JP2016524132A ,2016-08-12
[8]
試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7267360B2 ,2023-05-01
[9]
試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2013099648A1 ,2015-05-07
[10]
試料分析方法及び試料分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2025002086A ,2025-01-09