熱分析装置、試料ホルダ組立体及び熱分析方法[ja]

被引：0

申请号：

JP20190174562

申请日：

2019-09-25

公开(公告)号：

JP6792040B1

公开(公告)日：

2020-11-25

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N25/20

IPC分类号：

G01N5/04

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共 50 条

[1]

試料ホルダ及び真空分析装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2015083270A1 ,2017-03-16

[2]

試料ホルダ及び真空分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP6140298B2 ,2017-05-31

[3]

試料容器及び熱分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP6706522B2 ,2020-06-10

[4]

試料容器及び熱分析装置[ja] [P].

YAMAZAKI RYOKUHEI ;

FUJIWARA HIROTO ;

NAKAGAWA KOTA .

日本专利 :JP2025107736A ,2025-07-22

[5]

熱分析装置、及び熱分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP5933653B2 ,2016-06-15

[6]

試料ホルダ、試料室及びＸ線分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP6077812B2 ,2017-02-08

[7]

熱分析装置、及び試料分析システム[ja] [P].

日本专利 :JP6712892B2 ,2020-06-24

[8]

試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP7267360B2 ,2023-05-01

[9]

試料分析装置及び試料分析方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2013099648A1 ,2015-05-07

[10]

試料分析方法及び試料分析装置[ja] [P].

日本专利 :JP2025002086A ,2025-01-09

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