試料中の被検物質の測定方法及び装置[ja]

被引:0
申请号
JP20070555966
申请日
2007-01-24
公开(公告)号
JPWO2007086403A1
公开(公告)日
2009-06-18
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N33/543
IPC分类号
G01N27/416 G01N33/58
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
被検物質測定キット及び被検物質の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6118761B2 ,2017-04-19
[4]
被検物質の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2007116811A1 ,2009-08-20
[5]
試料中の基質の測定方法[ja] [P]. 
IWASA HISANORI ;
TSUJI KATSUMI ;
YONEDA KEIZO ;
HIRATSUKA ATSUNORI ;
TANAKA TAKESHI ;
ROKUSHA HITOSHI .
日本专利 :JP2024070325A ,2024-05-23
[6]
[7]
試料中のC反応性蛋白質の測定方法及び測定試薬[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2010058860A1 ,2012-04-19
[8]
[9]
試料中のHMGB1の測定方法及び測定試薬[ja] [P]. 
日本专利 :JP7313659B2 ,2023-07-25