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視線方向を決定するための3D画像分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20160550180
申请日
:
2015-01-30
公开(公告)号
:
JP6248208B2
公开(公告)日
:
2017-12-13
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G06T7/00
IPC分类号
:
A61B3/113
G06T7/70
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
視線方向を決定するための3D画像分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2017514193A
,2017-06-01
[2]
試料を分析するためのX線装置及び方法[ja]
[P].
MILEN GATESHKI
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MALVERN PANALYTICAL BV
MALVERN PANALYTICAL BV
MILEN GATESHKI
;
DETLEF BECKERS
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
MALVERN PANALYTICAL BV
MALVERN PANALYTICAL BV
DETLEF BECKERS
.
日本专利
:JP2024127870A
,2024-09-20
[3]
流体の粘度を分析するための分析装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2021527199A
,2021-10-11
[4]
流体の粘度を分析するための分析装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7382648B2
,2023-11-17
[5]
体液中の分析物の濃度を決定する方法及び装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2017501395A
,2017-01-12
[6]
分析装置の状態を点検するための技術[ja]
[P].
日本专利
:JP7227948B2
,2023-02-22
[7]
試料を光熱分析するための分析装置及び分析方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5833603B2
,2015-12-16
[8]
受表面の弾性を分析するための表面分析装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2019534719A
,2019-12-05
[9]
受表面の弾性を分析するための表面分析装置および方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6588681B1
,2019-10-09
[10]
組織を分析するためのプロセス及び装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2024519186A
,2024-05-08
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