測定方法、センサチップ、および測定装置[ja]

被引：0

申请号：

JP20120066417

申请日：

2012-03-22

公开(公告)号：

JP5766642B2

公开(公告)日：

2015-08-19

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

G01N33/543

IPC分类号：

G01N21/27

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法律状态信息

共 50 条

[1]

センサチップ、測定装置、および測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP5728419B2 ,2015-06-03

[2]

測定チップ、測定方法および測定装置[ja] [P].

日本专利 :JP6460104B2 ,2019-01-30

[3]

測定方法、測定装置および測定チップ[ja] [P].

日本专利 :JPWO2016152707A1 ,2017-12-28

[4]

測定チップ、測定方法および測定装置[ja] [P].

日本专利 :JPWO2015194513A1 ,2017-04-20

[5]

測定方法、測定装置および測定チップ[ja] [P].

日本专利 :JP6954116B2 ,2021-10-27

[6]

センサ、測定装置、および測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6608174B2 ,2019-11-20

[7]

測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6946537B2 ,2021-10-06

[8]

測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2017006679A1 ,2018-04-19

[9]

測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja] [P].

日本专利 :JP6676236B2 ,2020-04-08

[10]

測定用チップ、測定装置、および測定方法[ja] [P].

TADA KEIJI ;

KAWAJIRI TAKESHI ;

KAJI SHOICHIRO .

日本专利 :JP2024076618A ,2024-06-06

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