質量分析装置における検出構成[ja]

被引：0

申请号：

JP20100013037

申请日：

2010-01-25

公开(公告)号：

JP5686309B2

公开(公告)日：

2015-03-18

发明(设计)人：

申请人：

申请人地址：

IPC主分类号：

H01J49/06

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法律状态信息

共 50 条

[1]

質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法[ja] [P].

日本专利 :JP7063342B2 ,2022-05-09

[2]

質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2019150576A1 ,2021-01-07

[3]

質量分析装置におけるデータ取得方法[ja] [P].

日本专利 :JP6901012B2 ,2021-07-14

[4]

質量分析装置におけるデータ取得方法[ja] [P].

日本专利 :JP2020527695A ,2020-09-10

[5]

分析装置及び分析装置における液体の検出方法[ja] [P].

KAWASHIMA SHOHEI ;

UENO TAKESHI ;

GOTO TAKASHI ;

HONDA TAMAKI ;

CHIFUKU YOSHIHIRO ;

SAITO YUTA .

日本专利 :JP2025032929A ,2025-03-12

[6]

分析装置、及び分析装置における液面検出方法[ja] [P].

日本专利 :JP6280777B2 ,2018-02-14

[7]

質量分析装置および質量分析方法[ja] [P].

日本专利 :JPWO2012067195A1 ,2014-05-19

[8]

質量分析装置および質量分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP6818322B2 ,2021-01-20

[9]

質量分析装置および質量分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP6976445B2 ,2021-12-08

[10]

質量分析装置および質量分析方法[ja] [P].

日本专利 :JP7280843B2 ,2023-05-24

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