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質量分析装置におけるデータ取得方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20190570171
申请日
:
2018-10-29
公开(公告)号
:
JP2020527695A
公开(公告)日
:
2020-09-10
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N27/62
IPC分类号
:
G01N30/72
H01J49/00
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
質量分析装置におけるデータ取得方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6901012B2
,2021-07-14
[2]
質量分析データ取得方法[ja]
[P].
日本专利
:JP2020519870A
,2020-07-02
[3]
質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7063342B2
,2022-05-09
[4]
質量分析装置及び質量分析装置における質量較正方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019150576A1
,2021-01-07
[5]
質量分析データ処理方法、質量分析データ処理装置、及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5682540B2
,2015-03-11
[6]
質量分析データ処理方法及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2025171379A
,2025-11-20
[7]
質量分析装置における検出構成[ja]
[P].
日本专利
:JP5686309B2
,2015-03-18
[8]
質量分析データ処理装置、質量分析装置、質量分析データ処理方法、及び質量分析データ処理用プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6565801B2
,2019-08-28
[9]
質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015079529A1
,2017-03-16
[10]
質量分析方法、質量分析装置、及び質量分析データ処理プログラム[ja]
[P].
日本专利
:JP6176334B2
,2017-08-09
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