X線反射率測定装置及びX線反射率測定方法[ja]

被引:0
申请号
JP20140161359
申请日
2014-08-07
公开(公告)号
JP6308072B2
公开(公告)日
2018-04-11
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01N23/201
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
分光反射率測定装置、及び分光反射率測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2011142295A1 ,2013-07-22
[2]
[4]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2016152654A1 ,2018-01-11
[5]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6361086B1 ,2018-07-25
[6]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6155538B2 ,2017-07-05
[7]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7523147B2 ,2024-07-26
[8]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5958584B1 ,2016-08-02
[9]
[10]
X線装置およびX線測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5646906B2 ,2014-12-24