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X線反射率測定装置及びX線反射率測定方法[ja]
被引:0
申请号
:
JP20140161359
申请日
:
2014-08-07
公开(公告)号
:
JP6308072B2
公开(公告)日
:
2018-04-11
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01N23/201
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
分光反射率測定装置、及び分光反射率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2011142295A1
,2013-07-22
[2]
分光反射率測定装置、及び分光反射率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5761762B2
,2015-08-12
[3]
曲率分布結晶レンズの製造方法、偏光制御装置、X線反射率測定装置およびX線反射率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2007072906A1
,2009-06-04
[4]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2016152654A1
,2018-01-11
[5]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6361086B1
,2018-07-25
[6]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6155538B2
,2017-07-05
[7]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7523147B2
,2024-07-26
[8]
X線回折測定装置及びX線回折測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5958584B1
,2016-08-02
[9]
X線測定装置、X線測定方法及び機械学習方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7200193B2
,2023-01-06
[10]
X線装置およびX線測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP5646906B2
,2014-12-24
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