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測定対象物内の欠陥を検出するＴＨｚ測定装置及びＴＨｚ測定方法[ja]

被引：0
申请号：
JP20210515163
申请日：
2019-08-28
公开(公告)号：
JP2022501591A
公开(公告)日：
2022-01-06
发明(设计)人：
申请人：
申请人地址：
IPC主分类号：
G01N21/3581
IPC分类号：
G01B11/24 G01N21/88
代理机构：
代理人：
法律状态：
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法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
共 50 条
[1]
測定対象物内の欠陥を検出するＴＨｚ測定装置及びＴＨｚ測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7174840B2 ,2022-11-17
[2]
試料中の測定対象物を検出する免疫測定方法[ja] [P]. 
NAKAMURA KANHIKO ;
KIN DAIKEN ;
ITO TEIJI .
日本专利 :JP2024113375A ,2024-08-22
[3]
欠陥測定装置及び欠陥測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP7095270B2 ,2022-07-05
[4]
被測定対象の特性測定装置及び被測定対象の特性測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP5892623B2 ,2016-03-23
[5]
被測定対象の特性測定装置及び被測定対象の特性測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2013011869A1 ,2015-02-23
[6]
測定対象物測定器具、測定装置および測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2005015217A1 ,2006-10-05
[7]
検出対象物の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6124107B2 ,2017-05-10
[8]
測定対象物を測定するための光学測定システム及び光学測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP2025144554A ,2025-10-02
[9]
測定対象成分の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JP6004942B2 ,2016-10-12
[10]
測定対象成分の測定方法[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2012081539A1 ,2014-05-22
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