高周波電磁界測定装置[ja]

被引:0
申请号
JP20150506537
申请日
2013-09-06
公开(公告)号
JP6327614B2
公开(公告)日
2018-05-23
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
G01R29/08
IPC分类号
G01R31/302
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
高周波電磁界測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2014147866A1 ,2017-02-16
[2]
高周波磁界検出装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5958895B2 ,2016-08-02
[3]
高周波測定方法及び高周波測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6922934B2 ,2021-08-18
[4]
高周波測定方法及び高周波測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2018146901A1 ,2019-12-12
[5]
電界測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP3204485U ,2016-06-02
[6]
高周波特性測定装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP5782824B2 ,2015-09-24
[8]
高周波電磁場刺激装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6541660B2 ,2019-07-10
[9]
高周波電磁放射の生成[ja] [P]. 
日本专利 :JP2023546976A ,2023-11-08