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高周波電磁界測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20150506537
申请日
:
2013-09-06
公开(公告)号
:
JP6327614B2
公开(公告)日
:
2018-05-23
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01R29/08
IPC分类号
:
G01R31/302
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
高周波電磁界測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014147866A1
,2017-02-16
[2]
高周波磁界検出装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5958895B2
,2016-08-02
[3]
高周波測定方法及び高周波測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6922934B2
,2021-08-18
[4]
高周波測定方法及び高周波測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018146901A1
,2019-12-12
[5]
電界測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP3204485U
,2016-06-02
[6]
高周波特性測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP5782824B2
,2015-09-24
[7]
高周波測定装置、および、高周波測定装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6441604B2
,2018-12-19
[8]
高周波電磁場刺激装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6541660B2
,2019-07-10
[9]
高周波電磁放射の生成[ja]
[P].
日本专利
:JP2023546976A
,2023-11-08
[10]
高周波導電率測定用装置及び高周波導電率測定方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6288447B2
,2018-03-07
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