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高周波特性測定装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20110111075
申请日
:
2011-05-18
公开(公告)号
:
JP5782824B2
公开(公告)日
:
2015-09-24
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
G01R1/06
IPC分类号
:
G01R31/26
H01L21/66
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
高周波特性検査装置、及び高周波特性検査方法[ja]
[P].
日本专利
:JP7303543B2
,2023-07-05
[2]
高周波測定方法及び高周波測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6922934B2
,2021-08-18
[3]
高周波測定方法及び高周波測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018146901A1
,2019-12-12
[4]
高周波測定装置、および、高周波測定装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6441604B2
,2018-12-19
[5]
高周波電磁界測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2014147866A1
,2017-02-16
[6]
高周波電磁界測定装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6327614B2
,2018-05-23
[7]
電子部品の高周波電気特性測定方法および装置、高周波電気特性測定装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005101033A1
,2008-03-06
[8]
電子部品の高周波電気特性測定方法および装置、高周波電気特性測定装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005101035A1
,2008-03-06
[9]
電子部品の高周波電気特性測定方法および装置、高周波電気特性測定装置の校正方法[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2005101034A1
,2008-03-06
[10]
高周波装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7189374B2
,2022-12-13
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