イオン化装置および質量分析装置[ja]

被引:0
申请号
JP20130135665
申请日
2013-06-28
公开(公告)号
JP6231308B2
公开(公告)日
2017-11-15
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01J49/10
IPC分类号
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
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イオン光学装置および質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP2018503931A ,2018-02-08
[3]
イオン光学装置および質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6376276B2 ,2018-08-22
[4]
[5]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6091620B2 ,2017-03-08
[6]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6620896B2 ,2019-12-18
[7]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6908138B2 ,2021-07-21
[8]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2018100612A1 ,2019-04-04
[9]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2015015641A1 ,2017-03-02
[10]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2019155530A1 ,2021-01-14