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イオン化装置および質量分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20130135665
申请日
:
2013-06-28
公开(公告)号
:
JP6231308B2
公开(公告)日
:
2017-11-15
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J49/10
IPC分类号
:
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
イオン化装置、質量分析装置およびイオン化方法[ja]
[P].
日本专利
:JP6484318B2
,2019-03-13
[2]
イオン光学装置および質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP2018503931A
,2018-02-08
[3]
イオン光学装置および質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6376276B2
,2018-08-22
[4]
質量分析装置および質量分析装置用のイオン源[ja]
[P].
日本专利
:JP6874819B2
,2021-05-19
[5]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6091620B2
,2017-03-08
[6]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6620896B2
,2019-12-18
[7]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6908138B2
,2021-07-21
[8]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018100612A1
,2019-04-04
[9]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2015015641A1
,2017-03-02
[10]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019155530A1
,2021-01-14
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