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イオン化装置及び質量分析装置[ja]
被引:0
申请号
:
JP20150529309
申请日
:
2013-08-02
公开(公告)号
:
JPWO2015015641A1
公开(公告)日
:
2017-03-02
发明(设计)人
:
申请人
:
申请人地址
:
IPC主分类号
:
H01J49/10
IPC分类号
:
G01N27/62
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
共 50 条
[1]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6091620B2
,2017-03-08
[2]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6620896B2
,2019-12-18
[3]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6908138B2
,2021-07-21
[4]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2018100612A1
,2019-04-04
[5]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JPWO2019155530A1
,2021-01-14
[6]
イオン化装置及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7306575B2
,2023-07-11
[7]
イオン化方法、イオン化装置、及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7171016B2
,2022-11-15
[8]
質量分析装置、質量分析方法、及びイオン源[ja]
[P].
日本专利
:JP6043568B2
,2016-12-14
[9]
イオン化装置および質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP6231308B2
,2017-11-15
[10]
イオン源及び質量分析装置[ja]
[P].
日本专利
:JP7505611B2
,2024-06-25
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