イオン化装置及び質量分析装置[ja]

被引:0
申请号
JP20150529309
申请日
2013-08-02
公开(公告)号
JPWO2015015641A1
公开(公告)日
2017-03-02
发明(设计)人
申请人
申请人地址
IPC主分类号
H01J49/10
IPC分类号
G01N27/62
代理机构
代理人
法律状态
国省代码
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共 50 条
[1]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6091620B2 ,2017-03-08
[2]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6620896B2 ,2019-12-18
[3]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6908138B2 ,2021-07-21
[4]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2018100612A1 ,2019-04-04
[5]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JPWO2019155530A1 ,2021-01-14
[6]
イオン化装置及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7306575B2 ,2023-07-11
[7]
[8]
質量分析装置、質量分析方法、及びイオン源[ja] [P]. 
日本专利 :JP6043568B2 ,2016-12-14
[9]
イオン化装置および質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP6231308B2 ,2017-11-15
[10]
イオン源及び質量分析装置[ja] [P]. 
日本专利 :JP7505611B2 ,2024-06-25