用于测量电磁场的测量装置和测量方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201810990568.0

申请日：

2018-08-28

公开(公告)号：

CN110161321B

公开(公告)日：

2024-07-16

发明(设计)人：

亚当·坦基伦科比特·罗威尔

申请人：

罗德施瓦兹两合股份有限公司

申请人地址：

德国慕尼黑

IPC主分类号：

G01R29/08

IPC分类号：

代理机构：

北京银龙知识产权代理有限公司 11243

代理人：

张敬强;李平

法律状态：

授权

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-07-16	授权	授权

共 50 条

[21]

电磁场测量系统 [P].

孙巍巍 .

中国专利 :CN201527453U ,2010-07-14

[22]

电磁场测量设备，用于该测量设备的电磁场测量方法以及存储电磁场测量控制程序的非瞬时性计算机可读介质 [P].

岩波瑞树 ;

福田浩司 ;

大平理觉 .

中国专利 :CN102472786A ,2012-05-23

[23]

磁场测量方法以及磁场测量装置 [P].

长坂公夫 ;

宫坂光敏 ;

高桥智 .

中国专利 :CN105652223A ,2016-06-08

[24]

磁场测量装置及磁场测量方法 [P].

芳井义治 ;

水落宪和 .

中国专利 :CN110673066A ,2020-01-10

[25]

磁场测量方法以及磁场测量装置 [P].

长坂公夫 ;

宫坂光敏 .

中国专利 :CN105640552A ,2016-06-08

[26]

磁场测量装置及磁场测量方法 [P].

芳井义治 ;

水落宪和 .

日本专利 :CN110673066B ,2024-07-05

[27]

磁场测量装置及磁场测量方法 [P].

周建新 ;

康文 ;

陈福三 .

中国专利 :CN119619927A ,2025-03-14

[28]

电磁场测量箱的主体 [P].

J·弗里岑沙夫特 ;

U·梅尔德 ;

A·克劳特-查克 ;

F·里格尔斯贝格 ;

H·邵普 ;

P·赫斯 .

:CN308456183S ,2024-02-06

[29]

测量电磁场的系统 [P].

贝诺瓦·杜瑞德 ;

斯提芬·潘仁河 ;

安德里亚·高察 .

中国专利 :CN102782514A ,2012-11-14

[30]

磁场测量装置及测量方法 [P].

许世文 ;

常佩 ;

张伟 ;

潘宜斌 ;

陈进 ;

丁开忠 ;

陈永华 ;

江峰 ;

杜双松 .

中国专利 :CN119224657A ,2024-12-31

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