一种半导体电热膜发热检测标记装置

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410868927.0

申请日：

2024-07-01

公开(公告)号：

CN118405466B

公开(公告)日：

2024-09-24

发明(设计)人：

张伟戴成周高蘋

申请人：

中熵科技（徐州）有限公司

申请人地址：

221321 江苏省徐州市邳州市官湖镇上海路28号

IPC主分类号：

B65G47/74

IPC分类号：

B65G43/08 B65H18/10 G01J5/00 G01J5/02 G01J5/04

代理机构：

徐州卓新创燃知识产权代理事务所(普通合伙) 32841

代理人：

张宁

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省徐州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-09-24	授权	授权
2024-07-30	公开	公开
2024-08-16	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):B65G 47/74申请日:20240701

共 50 条

[1]

一种半导体电热膜发热检测标记装置 [P].

张伟 ;

戴成周 ;

高蘋 .

中国专利 :CN118405466A ,2024-07-30

[2]

一种半导体电热膜质量检测装置 [P].

张伟 ;

戴成周 ;

高蘋 .

中国专利 :CN118090461B ,2024-06-21

[3]

一种半导体电热膜质量检测装置 [P].

张伟 ;

戴成周 ;

高蘋 .

中国专利 :CN118090461A ,2024-05-28

[4]

掺杂半导体电热膜 [P].

张柏洲 ;

朱金鸟 .

中国专利 :CN1033225A ,1989-05-31

[5]

电热膜发热装置 [P].

费卫锋 .

中国专利 :CN210093593U ,2020-02-18

[6]

一种半导体纳米电热膜发热体 [P].

吕继锐 ;

张志鸿 .

中国专利 :CN222884805U ,2025-05-16

[7]

一种半导体电热膜输送装置 [P].

张伟 ;

戴成周 ;

高蘋 .

中国专利 :CN118387447A ,2024-07-26

[8]

一种半导体电热膜输送装置 [P].

张伟 ;

戴成周 ;

高蘋 .

中国专利 :CN118387447B ,2024-09-20

[9]

一种半导体电热膜质量检测装置及方法 [P].

任卫民 ;

杨勇 ;

白雨晴 ;

林贞珊 ;

陈辉 ;

郭义 ;

张慧兰 .

中国专利 :CN118817591B ,2025-02-25

[10]

一种半导体电热膜质量检测装置及方法 [P].

任卫民 ;

杨勇 ;

白雨晴 ;

林贞珊 ;

陈辉 ;

郭义 ;

张慧兰 .

中国专利 :CN118817591A ,2024-10-22

← 1 2 3 4 5 →