一种用于硅晶片酸蚀刻后简单的清洗工艺

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202310132970.6
申请日
2023-02-09
公开(公告)号
CN118455177A
公开(公告)日
2024-08-09
发明(设计)人
李亚松 李汉生 蔡雪良
申请人
昆山中辰矽晶有限公司
申请人地址
215316 江苏省昆山市玉山镇城北汉浦路303号
IPC主分类号
B08B3/08
IPC分类号
B08B3/04 B08B3/10 H01L21/02 H01L21/67
代理机构
代理人
法律状态
公开
国省代码
江苏省 苏州市
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共 50 条
[1]
硅晶片研磨之后的清洗工艺 [P]. 
柴晶(音译) ;
亨利·F·伊尔克 ;
朱迪斯·A·施密特 ;
托马斯·E·达尼 .
中国专利 :CN1281588A ,2001-01-24
[2]
适用于清洗硅晶片的洗剂及用于清洗一硅晶片的方法 [P]. 
佘怡璇 ;
徐志贤 ;
卢厚德 ;
王兴嘉 .
中国专利 :CN102719330A ,2012-10-10
[3]
一种硅晶片清洗装置及其工艺 [P]. 
陈春成 ;
戚建静 .
中国专利 :CN112309886A ,2021-02-02
[4]
锗酸铋晶片的清洗工艺 [P]. 
卓世异 ;
黄维 ;
王乐星 ;
庄击勇 ;
陈辉 .
中国专利 :CN103230894A ,2013-08-07
[5]
一种用于硅晶片清洗后干燥、去污的装置 [P]. 
张小飞 ;
张纪尧 .
中国专利 :CN211320059U ,2020-08-21
[6]
用于蚀刻硅晶片的高纯度碱蚀刻溶液及硅晶片的碱蚀刻方法 [P]. 
西村茂树 .
中国专利 :CN1648287A ,2005-08-03
[7]
一种TSV蚀刻后清洗工艺 [P]. 
徐竹林 .
中国专利 :CN117423606A ,2024-01-19
[8]
用于硅晶片的湿法酸化学蚀刻的制剂 [P]. 
艾瑞克·斯特恩 ;
布兰得利·M·韦斯特 ;
詹森·克里肖内 .
中国专利 :CN104094383A ,2014-10-08
[9]
一种用于半导体硅晶片磨砂后的清洗装置 [P]. 
卢金达 ;
赵建 ;
陈荣杰 .
中国专利 :CN215543170U ,2022-01-18
[10]
一种晶片清洗工艺 [P]. 
郑金龙 ;
杨小丽 ;
周铁军 ;
马金峰 .
中国专利 :CN115050629A ,2022-09-13