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一种用于硅晶片酸蚀刻后简单的清洗工艺
被引:0
专利类型
:
发明
申请号
:
CN202310132970.6
申请日
:
2023-02-09
公开(公告)号
:
CN118455177A
公开(公告)日
:
2024-08-09
发明(设计)人
:
李亚松
李汉生
蔡雪良
申请人
:
昆山中辰矽晶有限公司
申请人地址
:
215316 江苏省昆山市玉山镇城北汉浦路303号
IPC主分类号
:
B08B3/08
IPC分类号
:
B08B3/04
B08B3/10
H01L21/02
H01L21/67
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
公开
国省代码
:
江苏省 苏州市
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2024-08-09
公开
公开
共 50 条
[1]
硅晶片研磨之后的清洗工艺
[P].
柴晶(音译)
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柴晶(音译)
;
亨利·F·伊尔克
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亨利·F·伊尔克
;
朱迪斯·A·施密特
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朱迪斯·A·施密特
;
托马斯·E·达尼
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托马斯·E·达尼
.
中国专利
:CN1281588A
,2001-01-24
[2]
适用于清洗硅晶片的洗剂及用于清洗一硅晶片的方法
[P].
佘怡璇
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佘怡璇
;
徐志贤
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徐志贤
;
卢厚德
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卢厚德
;
王兴嘉
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王兴嘉
.
中国专利
:CN102719330A
,2012-10-10
[3]
一种硅晶片清洗装置及其工艺
[P].
陈春成
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陈春成
;
戚建静
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戚建静
.
中国专利
:CN112309886A
,2021-02-02
[4]
锗酸铋晶片的清洗工艺
[P].
卓世异
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卓世异
;
黄维
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黄维
;
王乐星
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王乐星
;
庄击勇
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庄击勇
;
陈辉
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陈辉
.
中国专利
:CN103230894A
,2013-08-07
[5]
一种用于硅晶片清洗后干燥、去污的装置
[P].
张小飞
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张小飞
;
张纪尧
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张纪尧
.
中国专利
:CN211320059U
,2020-08-21
[6]
用于蚀刻硅晶片的高纯度碱蚀刻溶液及硅晶片的碱蚀刻方法
[P].
西村茂树
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西村茂树
.
中国专利
:CN1648287A
,2005-08-03
[7]
一种TSV蚀刻后清洗工艺
[P].
徐竹林
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机构:
华林科纳(江苏)半导体设备有限公司
华林科纳(江苏)半导体设备有限公司
徐竹林
.
中国专利
:CN117423606A
,2024-01-19
[8]
用于硅晶片的湿法酸化学蚀刻的制剂
[P].
艾瑞克·斯特恩
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艾瑞克·斯特恩
;
布兰得利·M·韦斯特
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布兰得利·M·韦斯特
;
詹森·克里肖内
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詹森·克里肖内
.
中国专利
:CN104094383A
,2014-10-08
[9]
一种用于半导体硅晶片磨砂后的清洗装置
[P].
卢金达
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卢金达
;
赵建
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赵建
;
陈荣杰
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陈荣杰
.
中国专利
:CN215543170U
,2022-01-18
[10]
一种晶片清洗工艺
[P].
郑金龙
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郑金龙
;
杨小丽
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杨小丽
;
周铁军
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周铁军
;
马金峰
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马金峰
.
中国专利
:CN115050629A
,2022-09-13
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