自动化FPGA布线资源测试方法、装置、电子设备及存储介质

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410437654.4

申请日：

2024-04-12

公开(公告)号：

CN118069447B

公开(公告)日：

2024-07-16

发明(设计)人：

王雨辰王国伟贾弘翊韦嶔张红荣

申请人：

济南智多晶微电子有限公司

申请人地址：

250098 山东省济南市中国(山东)自由贸易试验区济南片区新泺大街1166号奥盛大厦3号楼21层2103室

IPC主分类号：

G06F11/22

IPC分类号：

G06F11/263 G06F11/273

代理机构：

西安嘉思特知识产权代理事务所(普通合伙) 61230

代理人：

王海栋

法律状态：

公开

国省代码：

山东省济南市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-05-24	公开	公开
2024-06-11	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20240412
2024-07-16	授权	授权

共 50 条

[1]

自动化FPGA布线资源测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王雨辰 ;

王国伟 ;

贾弘翊 ;

韦嶔 ;

张红荣 .

中国专利 :CN118069447A ,2024-05-24

[2]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王成 .

中国专利 :CN107704398A ,2018-02-16

[3]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

王博 .

中国专利 :CN117762762A ,2024-03-26

[4]

自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

赵文越 ;

阮晓玲 .

中国专利 :CN113961472A ,2022-01-21

[5]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

王钞仕 .

中国专利 :CN107678970A ,2018-02-09

[6]

自动化测试方法、装置、存储介质及电子设备 [P].

楚琳琳 .

中国专利 :CN117493170A ,2024-02-02

[7]

自动化测试方法及装置、存储介质、电子设备 [P].

曹偲 ;

张文 ;

胡涛 ;

施红 ;

刘金龙 .

中国专利 :CN112463605B ,2024-03-15

[8]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

马晨 .

中国专利 :CN112882939B ,2021-06-01

[9]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

陈岑 ;

郑志芬 ;

李长乐 .

中国专利 :CN121187949A ,2025-12-23

[10]

自动化测试方法、装置、电子设备及存储介质 [P].

许明天 .

中国专利 :CN118820058A ,2024-10-22

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