电路保护模块的测试电路及测试装置

被引：0

专利类型：

实用新型

申请号：

CN202323260477.7

申请日：

2023-11-30

公开(公告)号：

CN221550814U

公开(公告)日：

2024-08-16

发明(设计)人：

任文睿刘璐刘辉虎杨泽良万猛

申请人：

欣旺达电子股份有限公司

申请人地址：

518108 广东省深圳市宝安区石岩街道石龙社区颐和路2号综合楼1楼、2楼A-B区、2楼D区-9楼

IPC主分类号：

G01R31/00

IPC分类号：

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司 44570

代理人：

吴娟

法律状态：

授权

国省代码：

广东省深圳市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-16	授权	授权

共 50 条

[1]

测试保护电路及测试装置 [P].

何秋阳 ;

罗鹏 ;

刘家才 ;

李鑫 .

中国专利 :CN114878880A ,2022-08-09

[2]

测试电路及芯片电路测试装置 [P].

杨九如 ;

王春来 ;

李诚建 .

中国专利 :CN213457239U ,2021-06-15

[3]

测试电路及测试装置 [P].

郭会斌 ;

刘晓伟 .

中国专利 :CN203241477U ,2013-10-16

[4]

测试电路及测试装置 [P].

汪洋 ;

王巍 ;

赵松年 .

中国专利 :CN211856712U ,2020-11-03

[5]

测试装置及电路模块 [P].

安高刚 ;

小岛昭二 .

中国专利 :CN102197313A ,2011-09-21

[6]

一种电池保护电路的测试电路及测试装置 [P].

卢剑 ;

邓春涛 ;

唐鹏猋 ;

张怀山 .

中国专利 :CN211123141U ,2020-07-28

[7]

测试电路及包括测试电路的测试装置 [P].

楼冬明 ;

范卫东 ;

常仲元 .

中国专利 :CN118777828A ,2024-10-15

[8]

测试电路及测试装置 [P].

张争明 ;

徐思世 ;

华贤卫 .

中国专利 :CN223486145U ,2025-10-28

[9]

一种光模块测试电路及测试装置 [P].

揭志伟 ;

张小栋 .

中国专利 :CN205545267U ,2016-08-31

[10]

测试电路和测试装置 [P].

王智宇 ;

王其俊 .

中国专利 :CN215526006U ,2022-01-14

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