测试装置及电路模块

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200980142610.2

申请日：

2009-10-15

公开(公告)号：

CN102197313A

公开(公告)日：

2011-09-21

发明(设计)人：

安高刚小岛昭二

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015

代理人：

齐永红

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-11-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101141114199 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2009801426102 申请日:20091015
2011-09-21	公开	公开
2016-05-18	授权	授权

共 50 条

[1]

测试装置，电路模块，以及制造方法 [P].

安高刚 ;

小野淳 .

中国专利 :CN102197314A ,2011-09-21

[2]

电路保护模块的测试电路及测试装置 [P].

任文睿 ;

刘璐 ;

刘辉虎 ;

杨泽良 ;

万猛 .

中国专利 :CN221550814U ,2024-08-16

[3]

测试电路及测试装置 [P].

郭会斌 ;

刘晓伟 .

中国专利 :CN203241477U ,2013-10-16

[4]

测试电路及测试装置 [P].

张争明 ;

徐思世 ;

华贤卫 .

中国专利 :CN223486145U ,2025-10-28

[5]

测试电路及测试装置 [P].

汪洋 ;

王巍 ;

赵松年 .

中国专利 :CN211856712U ,2020-11-03

[6]

一种光模块测试电路及测试装置 [P].

揭志伟 ;

张小栋 .

中国专利 :CN205545267U ,2016-08-31

[7]

测试电路及芯片电路测试装置 [P].

杨九如 ;

王春来 ;

李诚建 .

中国专利 :CN213457239U ,2021-06-15

[8]

接口测试电路及测试装置 [P].

吴东 ;

陈熙 ;

王雷 .

中国专利 :CN218213283U ,2023-01-03

[9]

测试保护电路及测试装置 [P].

何秋阳 ;

罗鹏 ;

刘家才 ;

李鑫 .

中国专利 :CN114878880A ,2022-08-09

[10]

测试电路及包括测试电路的测试装置 [P].

楼冬明 ;

范卫东 ;

常仲元 .

中国专利 :CN118777828A ,2024-10-15

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