测试装置，电路模块，以及制造方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN200980142810.8

申请日：

2009-10-15

公开(公告)号：

CN102197314A

公开(公告)日：

2011-09-21

发明(设计)人：

安高刚小野淳

申请人：

申请人地址：

日本东京都

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京英特普罗知识产权代理有限公司 11015

代理人：

齐永红

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2011-09-21	公开	公开
2014-05-14	发明专利申请公布后的视为撤回	发明专利申请公布后的视为撤回号牌文件类型代码:1603 号牌文件序号:101700860116 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2009801428108 申请公布日:20110921
2011-11-23	实质审查的生效	实质审查的生效号牌文件类型代码:1604 号牌文件序号:101141114320 IPC(主分类):G01R 31/28 专利申请号:2009801428108 申请日:20091015

共 50 条

[1]

测试装置及电路模块 [P].

安高刚 ;

小岛昭二 .

中国专利 :CN102197313A ,2011-09-21

[2]

集成电路测试装置以及方法以及测试装置的制造方法 [P].

林泰宏 ;

江志铭 ;

李宜宪 ;

李吉明 .

中国专利 :CN101051065A ,2007-10-10

[3]

测试装置以及测试电路卡 [P].

松本直木 ;

关野隆 .

中国专利 :CN101331404A ,2008-12-24

[4]

电路测试装置 [P].

周兴远 ;

姚海波 ;

辜俊峰 ;

姚龙飞 ;

胡义伟 .

中国专利 :CN113495205A ,2021-10-12

[5]

测试装置、测试方法以及制造方法 [P].

佐藤和弘 ;

甲斐学 .

中国专利 :CN101573715B ,2009-11-04

[6]

测试装置、测试装置的制造方法以及测试方法 [P].

北村阳介 ;

大石周 ;

黄晓橹 .

中国专利 :CN108336064A ,2018-07-27

[7]

电路保护模块的测试电路及测试装置 [P].

任文睿 ;

刘璐 ;

刘辉虎 ;

杨泽良 ;

万猛 .

中国专利 :CN221550814U ,2024-08-16

[8]

测试装置、电路装置以及程序 [P].

小塚纪义 .

中国专利 :CN101755220A ,2010-06-23

[9]

测试装置、测试系统、测试方法以及制造集成电路的方法 [P].

李在卨 ;

洪基玉 ;

郑海成 .

中国专利 :CN110008765A ,2019-07-12

[10]

测试装置、测试系统、测试方法以及制造集成电路的方法 [P].

李在卨 ;

洪基玉 ;

郑海成 .

韩国专利 :CN110008765B ,2024-02-02

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