一种电子元器件生产数据智能分析方法及系统

被引:0
专利类型
发明
申请号
CN202410866846.7
申请日
2024-07-01
公开(公告)号
CN118395311A
公开(公告)日
2024-07-26
发明(设计)人
黄静 许文杰 王学赟
申请人
惠州盛世达科技有限公司
申请人地址
516000 广东省惠州市惠城区水口办事处荔城工业区地段厂房华昇产业园一号园1号楼一楼104、五楼505
IPC主分类号
G06F18/2415
IPC分类号
G06F18/22 G06F18/23213
代理机构
广东超越知识产权代理有限公司 44975
代理人
马盼
法律状态
授权
国省代码
广东省 惠州市
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共 50 条
[1]
一种电子元器件生产数据智能分析方法及系统 [P]. 
黄静 ;
许文杰 ;
王学赟 .
中国专利 :CN118395311B ,2025-04-11
[2]
电子元器件智能生产控制方法及系统 [P]. 
岑秋花 ;
冀增科 .
中国专利 :CN120848431A ,2025-10-28
[3]
一种电子元器件数据清洗方法及设备 [P]. 
崔帆 ;
周国强 ;
王铭泽 .
中国专利 :CN110647521A ,2020-01-03
[4]
一种基于人工智能的电子元器件生产数据管理系统及方法 [P]. 
杨恒 .
中国专利 :CN116611679B ,2024-01-16
[5]
一种电子元器件故障检测与分析系统及方法 [P]. 
李海峰 ;
张文素 ;
盛永生 ;
袁青锐 .
中国专利 :CN120275744A ,2025-07-08
[6]
基于电子元器件的数据库构建方法及系统 [P]. 
张景鸿 ;
马新宁 ;
李宏亮 ;
李东 .
中国专利 :CN119621700A ,2025-03-14
[7]
基于电子元器件的数据库构建方法及系统 [P]. 
张景鸿 ;
马新宁 ;
李宏亮 ;
李东 .
中国专利 :CN119621700B ,2025-06-20
[8]
一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
徐秋凤 .
中国专利 :CN115311275A ,2022-11-08
[9]
一种电子元器件智能生产控制系统及其控制方法 [P]. 
王奖生 .
中国专利 :CN118051869A ,2024-05-17
[10]
一种电子元器件生产用智能检测装置及检测方法 [P]. 
林卫中 .
中国专利 :CN117970014A ,2024-05-03