一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统

被引：0

申请号：

CN202211239593.8

申请日：

2022-10-11

公开(公告)号：

CN115311275A

公开(公告)日：

2022-11-08

发明(设计)人：

徐秋凤

申请人：

申请人地址：

226000 江苏省南通市启东市汇龙镇城北工业园区跃龙东路3号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T520 G06T711 G06T762 G06V1026 G06V2070

代理机构：

安徽宏铎知识产权代理事务所(普通合伙) 34250

代理人：

罗慧

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2022-11-25	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20221011
2022-11-08	公开	公开

共 50 条

[1]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐鑫 .

中国专利 :CN117593273A ,2024-02-23

[2]

一种电子元器件表面缺陷识别方法 [P].

杜坤香 .

中国专利 :CN115294314B ,2022-12-30

[3]

电子元器件外壳缺陷检测方法及系统 [P].

吕宏峰 ;

王小强 ;

罗军 ;

刘磊 .

中国专利 :CN112730440A ,2021-04-30

[4]

基于人工智能的电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

杨小洪 .

中国专利 :CN120107220A ,2025-06-06

[5]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560A ,2021-06-11

[6]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560B ,2024-06-21

[7]

一种电子元器件的缺陷检测方法 [P].

程伟 ;

杨丽丹 ;

杨顺作 ;

杨丽香 ;

杨金燕 ;

杨丽霞 .

中国专利 :CN115018828A ,2022-09-06

[8]

基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

高红霞 ;

李冠基 ;

陈山娇 ;

赵金辉 ;

李绍龙 .

中国专利 :CN117952924B ,2025-09-26

[9]

基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

高红霞 ;

李冠基 ;

陈山娇 ;

赵金辉 ;

李绍龙 .

中国专利 :CN117952924A ,2024-04-30

[10]

一种基于深度学习的电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

成建宏 ;

王伟伟 ;

李少杉 .

中国专利 :CN120182221A ,2025-06-20

← 1 2 3 4 5 →