电子元器件缺陷检测方法、装置及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202110195319.4

申请日：

2021-02-20

公开(公告)号：

CN112950560A

公开(公告)日：

2021-06-11

发明(设计)人：

孙宸成立业黄云陈媛恩云飞路国光王力纬

申请人：

申请人地址：

511300 广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T762 G06F1658 G06K962 G06N304 G06N308

代理机构：

广州华进联合专利商标代理有限公司 44224

代理人：

唐敏

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-07-02	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20210220
2021-06-11	公开	公开

共 50 条

[1]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560B ,2024-06-21

[2]

电子元器件外壳缺陷检测方法及系统 [P].

吕宏峰 ;

王小强 ;

罗军 ;

刘磊 .

中国专利 :CN112730440A ,2021-04-30

[3]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐鑫 .

中国专利 :CN117593273A ,2024-02-23

[4]

电子元器件的检测方法及系统 [P].

邵敏 ;

韩熔 .

中国专利 :CN107765171A ,2018-03-06

[5]

一种电子元器件缺陷检测方法 [P].

刘星 .

中国专利 :CN115082449A ,2022-09-20

[6]

基于图像的电子元器件缺陷检测方法 [P].

陈震 ;

王鸿鹏 ;

程正涛 ;

王子涵 .

中国专利 :CN115187808B ,2025-05-06

[7]

一种电子元器件缺陷检测方法和设备 [P].

刘远飞 .

中国专利 :CN120125504A ,2025-06-10

[8]

基于人工智能的电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

杨小洪 .

中国专利 :CN120107220A ,2025-06-06

[9]

一种电子元器件的缺陷检测方法 [P].

程伟 ;

杨丽丹 ;

杨顺作 ;

杨丽香 ;

杨金燕 ;

杨丽霞 .

中国专利 :CN115018828A ,2022-09-06

[10]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐秋凤 .

中国专利 :CN115311275A ,2022-11-08

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