电子元器件的检测方法及系统

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN201711250240.7

申请日：

2017-12-01

公开(公告)号：

CN107765171A

公开(公告)日：

2018-03-06

发明(设计)人：

邵敏韩熔

申请人：

申请人地址：

050000 河北省石家庄市桥西区裕华西路9号付3号

IPC主分类号：

G01R3128

IPC分类号：

代理机构：

北京冠和权律师事务所 11399

代理人：

朱健;陈国军

法律状态：

公开

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2018-03-06	公开	公开
2020-09-18	发明专利申请公布后的驳回	发明专利申请公布后的驳回 IPC(主分类):G01R 31/28 申请公布日:20180306
2018-03-30	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G01R 31/28 申请日:20171201

共 50 条

[1]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560A ,2021-06-11

[2]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560B ,2024-06-21

[3]

电子元器件的检测系统及其检测方法 [P].

李暉 ;

李響 .

中国专利 :CN111198315A ,2020-05-26

[4]

电子元器件的检测方法 [P].

路浩通 ;

刘恒 ;

郑学恒 ;

高祎璠 .

中国专利 :CN117741377A ,2024-03-22

[5]

电子元器件外壳缺陷检测方法及系统 [P].

吕宏峰 ;

王小强 ;

罗军 ;

刘磊 .

中国专利 :CN112730440A ,2021-04-30

[6]

电子元器件温度检测方法和电子元器件执行系统以及车辆 [P].

郭亮亮 ;

林家沛 ;

游桂忠 ;

陈炫伟 ;

闫东京 .

中国专利 :CN115683376A ,2023-02-03

[7]

电子元器件及电子元器件的制备方法 [P].

刘丽 ;

王刚宁 ;

冯喆韻 ;

贺吉伟 ;

蒲贤勇 .

中国专利 :CN104882470B ,2015-09-02

[8]

一种电子元器件检测方法 [P].

杜正平 ;

田雨 ;

张宏民 ;

程天鑫 .

中国专利 :CN118379298A ,2024-07-23

[9]

一种电子元器件检测方法 [P].

杜正平 ;

田雨 ;

张宏民 ;

程天鑫 .

中国专利 :CN118379298B ,2024-08-20

[10]

一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P].

邹玮 .

中国专利 :CN117862041B ,2024-07-23

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