一种电子元器件检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410834450.4

申请日：

2024-06-26

公开(公告)号：

CN118379298B

公开(公告)日：

2024-08-20

发明(设计)人：

杜正平田雨张宏民程天鑫

申请人：

成都赛迪育宏检测技术有限公司

申请人地址：

610000 四川省成都市高新区新航路18号201栋1单元1层1号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06T7/11 G06T7/70

代理机构：

成都华复知识产权代理有限公司 51298

代理人：

戚玉平

法律状态：

授权

国省代码：

江苏省常州市

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2024-08-20	授权	授权
2024-07-23	公开	公开
2024-08-09	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240626

共 50 条

[1]

一种电子元器件检测方法 [P].

杜正平 ;

田雨 ;

张宏民 ;

程天鑫 .

中国专利 :CN118379298A ,2024-07-23

[2]

一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P].

邹玮 .

中国专利 :CN117862041B ,2024-07-23

[3]

一种电子元器件检测设备和电子元器件检测方法 [P].

邹玮 .

中国专利 :CN117862041A ,2024-04-12

[4]

一种电子元器件质量检测方法 [P].

周克 ;

杨兴国 ;

苏婧 ;

徐晓东 ;

王体梅 .

中国专利 :CN119688004A ,2025-03-25

[5]

一种电子元器件质量检测方法 [P].

周克 ;

杨兴国 ;

苏婧 ;

徐晓东 ;

王体梅 .

中国专利 :CN119688004B ,2025-10-28

[6]

电子元器件点胶检测方法 [P].

徐燎燃 ;

徐燎锋 ;

张浩洁 ;

王小荣 ;

王举君 .

中国专利 :CN121145088A ,2025-12-16

[7]

一种电子元器件表面检测设备及其检测方法 [P].

不公告发明人 .

中国专利 :CN114264850A ,2022-04-01

[8]

一种电子元器件瑕疵检测方法 [P].

项飞 ;

朱廷顺 ;

冯艳玲 ;

张银华 ;

李炯 ;

何庆峰 ;

裘艳琴 .

中国专利 :CN115546209A ,2022-12-30

[9]

一种电子元器件缺陷检测方法 [P].

刘星 .

中国专利 :CN115082449A ,2022-09-20

[10]

一种电子元器件外观检测方法 [P].

蔡正军 .

中国专利 :CN114609146A ,2022-06-10

← 1 2 3 4 5 →