基于图像的电子元器件缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202210761753.9

申请日：

2022-06-30

公开(公告)号：

CN115187808B

公开(公告)日：

2025-05-06

发明(设计)人：

陈震王鸿鹏程正涛王子涵

申请人：

哈尔滨工业大学（深圳）

申请人地址：

518000 广东省深圳市南山区桃源街道深圳大学城哈尔滨工业大学校区

IPC主分类号：

G06V10/764

IPC分类号：

G06V10/82 G06V10/20 G06N3/08

代理机构：

深圳市添源创鑫知识产权代理有限公司 44855

代理人：

姜书新

法律状态：

授权

国省代码：

山东省威海市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-05-06	授权	授权

共 50 条

[1]

一种电子元器件的缺陷检测方法 [P].

程伟 ;

杨丽丹 ;

杨顺作 ;

杨丽香 ;

杨金燕 ;

杨丽霞 .

中国专利 :CN115018828A ,2022-09-06

[2]

电子元器件外壳缺陷检测方法及系统 [P].

吕宏峰 ;

王小强 ;

罗军 ;

刘磊 .

中国专利 :CN112730440A ,2021-04-30

[3]

一种电子元器件缺陷检测方法 [P].

刘星 .

中国专利 :CN115082449A ,2022-09-20

[4]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560A ,2021-06-11

[5]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560B ,2024-06-21

[6]

基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

高红霞 ;

李冠基 ;

陈山娇 ;

赵金辉 ;

李绍龙 .

中国专利 :CN117952924B ,2025-09-26

[7]

基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

高红霞 ;

李冠基 ;

陈山娇 ;

赵金辉 ;

李绍龙 .

中国专利 :CN117952924A ,2024-04-30

[8]

基于图像采集的电子元器件封装缺陷检测方法及检测系统 [P].

叶晓刚 .

中国专利 :CN119579608A ,2025-03-07

[9]

基于图像采集的电子元器件封装缺陷检测方法及检测系统 [P].

郭艳飞 ;

孟庆伟 ;

熊兵 .

中国专利 :CN121236043A ,2025-12-30

[10]

一种基于Gerber文件的PCB电子元器件缺陷检测方法 [P].

王华龙 ;

陈强 ;

朱涛 ;

杨海东 .

中国专利 :CN112200799A ,2021-01-08

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