基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202410096915.0

申请日：

2024-01-24

公开(公告)号：

CN117952924B

公开(公告)日：

2025-09-26

发明(设计)人：

高红霞李冠基陈山娇赵金辉李绍龙

申请人：

华南理工大学

申请人地址：

510640 广东省广州市天河区五山路381号

IPC主分类号：

G06T7/00

IPC分类号：

G06V10/74 G06N3/0464 G06N3/088 G06T7/60 G06T7/70 G06T7/11

代理机构：

广州市华学知识产权代理有限公司 44245

代理人：

冯炳辉

法律状态：

授权

国省代码：

广东省广州市

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-09-26	授权	授权
2024-04-30	公开	公开
2024-05-17	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20240124

共 50 条

[1]

基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

高红霞 ;

李冠基 ;

陈山娇 ;

赵金辉 ;

李绍龙 .

中国专利 :CN117952924A ,2024-04-30

[2]

一种基于深度学习的电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

成建宏 ;

王伟伟 ;

李少杉 .

中国专利 :CN120182221A ,2025-06-20

[3]

基于人工智能的电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

杨小洪 .

中国专利 :CN120107220A ,2025-06-06

[4]

基于多光谱融合的电子元器件表面缺陷检测方法和装置 [P].

邓耀华 ;

黄志海 .

中国专利 :CN117191816B ,2024-02-20

[5]

基于GAYOLOv3_Tiny电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

杨艳 ;

耿涛 ;

谢金博 ;

王业琴 ;

庄昊 ;

王举 .

中国专利 :CN114677355A ,2022-06-28

[6]

基于图像的电子元器件缺陷检测方法 [P].

陈震 ;

王鸿鹏 ;

程正涛 ;

王子涵 .

中国专利 :CN115187808B ,2025-05-06

[7]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐鑫 .

中国专利 :CN117593273A ,2024-02-23

[8]

微小元器件表面缺陷检测系统 [P].

彭祺 ;

文志斌 ;

陈乐言 ;

屠礼芬 ;

李卫中 ;

郭圆圆 .

中国专利 :CN119757351A ,2025-04-04

[9]

电子元器件外壳缺陷检测方法及系统 [P].

吕宏峰 ;

王小强 ;

罗军 ;

刘磊 .

中国专利 :CN112730440A ,2021-04-30

[10]

一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P].

徐秋凤 .

中国专利 :CN115311275A ,2022-11-08

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