学术探索
学术期刊
学术作者
新闻热点
数据分析
智能评审

基于图像采集的电子元器件封装缺陷检测方法及检测系统

被引：0
专利类型：
发明
申请号：
CN202510139899.3
申请日：
2025-02-08
公开(公告)号：
CN119579608A
公开(公告)日：
2025-03-07
发明(设计)人：
叶晓刚
申请人：
先之科半导体科技（东莞）有限公司
申请人地址：
523000 广东省东莞市寮步镇寮步百业路70号1栋、2栋
IPC主分类号：
G06T7/00
IPC分类号：
G06N3/0464 G06N3/084 G06V10/44 G06V10/764 G06V10/80 G06V10/82
代理机构：
广州志识恒为专利代理事务所(特殊普通合伙) 441154
代理人：
林丽琼
法律状态：
实质审查的生效
国省代码：
广东省 东莞市
引用
下载
收藏
法律状态
法律状态公告日 法律状态 法律状态信息
2025-03-25 实质审查的生效 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20250208
2025-03-07 公开 公开
共 50 条
[1]
基于图像采集的电子元器件封装缺陷检测方法及检测系统 [P]. 
郭艳飞 ;
孟庆伟 ;
熊兵 .
中国专利 :CN121236043A ,2025-12-30
[2]
基于图像的电子元器件缺陷检测方法 [P]. 
陈震 ;
王鸿鹏 ;
程正涛 ;
王子涵 .
中国专利 :CN115187808B ,2025-05-06
[3]
电子元器件外壳缺陷检测方法及系统 [P]. 
吕宏峰 ;
王小强 ;
罗军 ;
刘磊 .
中国专利 :CN112730440A ,2021-04-30
[4]
电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P]. 
孙宸 ;
成立业 ;
黄云 ;
陈媛 ;
恩云飞 ;
路国光 ;
王力纬 .
中国专利 :CN112950560A ,2021-06-11
[5]
电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P]. 
孙宸 ;
成立业 ;
黄云 ;
陈媛 ;
恩云飞 ;
路国光 ;
王力纬 .
中国专利 :CN112950560B ,2024-06-21
[6]
电子元器件的检测系统及其检测方法 [P]. 
李暉 ;
李響 .
中国专利 :CN111198315A ,2020-05-26
[7]
一种电子元器件外观缺陷检测系统及方法 [P]. 
丁亮 .
中国专利 :CN119780096A ,2025-04-08
[8]
电子元器件的检测方法及系统 [P]. 
邵敏 ;
韩熔 .
中国专利 :CN107765171A ,2018-03-06
[9]
基于人工智能的电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
杨小洪 .
中国专利 :CN120107220A ,2025-06-06
[10]
基于工业视觉的电子元器件性能检测系统及方法 [P]. 
周宏彬 ;
韦肖丽 ;
周兴忠 .
中国专利 :CN121032934A ,2025-11-28
12345