一种电子元器件外观缺陷检测系统及方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202411936565.0

申请日：

2024-12-26

公开(公告)号：

CN119780096A

公开(公告)日：

2025-04-08

发明(设计)人：

丁亮

申请人：

江苏展鸣驱动科技有限公司

申请人地址：

226100 江苏省南通市海门区悦来镇包临公路1888号

IPC主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/01

代理机构：

绍兴柯诺知识产权代理有限公司 33631

代理人：

李宁

法律状态：

公开

国省代码：

引用

下载

收藏

法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2025-04-08	公开	公开
2025-04-25	实质审查的生效	实质审查的生效IPC(主分类):G01N 21/88申请日:20241226

共 50 条

[1]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

彭志强 .

中国专利 :CN216954468U ,2022-07-12

[2]

一种电子元器件外观缺陷检测设备 [P].

乔磊 ;

麻栋天 .

中国专利 :CN215297106U ,2021-12-24

[3]

一种电子元器件外观缺陷检测的方法及系统 [P].

宋世刚 ;

薛丽丽 ;

董礼 ;

唐伟浩 ;

任志聪 .

中国专利 :CN110455815A ,2019-11-15

[4]

电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

顾欣 .

中国专利 :CN203587523U ,2014-05-07

[5]

电子元器件外壳缺陷检测方法及系统 [P].

吕宏峰 ;

王小强 ;

罗军 ;

刘磊 .

中国专利 :CN112730440A ,2021-04-30

[6]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

杨国牛 ;

毛雪 .

中国专利 :CN222013986U ,2024-11-15

[7]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

乔磊 ;

陈姗姗 ;

于海瑞 ;

李冬菊 ;

曹丕 .

中国专利 :CN223192917U ,2025-08-05

[8]

一种电子元器件外观缺陷检测装置 [P].

韩越 ;

周洲 .

中国专利 :CN207675661U ,2018-07-31

[9]

一种电子元器件检测系统及方法 [P].

贾新彦 ;

张成鹏 ;

潘靖玮 ;

郭振涛 .

中国专利 :CN120121100A ,2025-06-10

[10]

一种电子元器件外观缺陷检测设备及其检测方法 [P].

邹有发 ;

万鹏 ;

刘鑫 .

中国专利 :CN119198546A ,2024-12-27

← 1 2 3 4 5 →