一种基于Gerber文件的PCB电子元器件缺陷检测方法

被引：0

专利类型：

发明

申请号：

CN202011182255.6

申请日：

2020-10-29

公开(公告)号：

CN112200799A

公开(公告)日：

2021-01-08

发明(设计)人：

王华龙陈强朱涛杨海东

申请人：

申请人地址：

528200 广东省佛山市南海高新区佛高科技智库中心A座4楼

IPC主分类号：

G06T700

IPC分类号：

G06T713 G06T500 G06T530

代理机构：

广州科沃园专利代理有限公司 44416

代理人：

马盼

法律状态：

实质审查的生效

国省代码：

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法律状态

法律状态公告日	法律状态	法律状态信息
2021-01-26	实质审查的生效	实质审查的生效 IPC(主分类):G06T 7/00 申请日:20201029
2021-01-08	公开	公开

共 50 条

[1]

基于图像的电子元器件缺陷检测方法 [P].

陈震 ;

王鸿鹏 ;

程正涛 ;

王子涵 .

中国专利 :CN115187808B ,2025-05-06

[2]

一种电子元器件的缺陷检测方法 [P].

程伟 ;

杨丽丹 ;

杨顺作 ;

杨丽香 ;

杨金燕 ;

杨丽霞 .

中国专利 :CN115018828A ,2022-09-06

[3]

一种电子元器件缺陷检测方法 [P].

刘星 .

中国专利 :CN115082449A ,2022-09-20

[4]

一种PCB元器件缺陷检测方法 [P].

陈文斌 ;

赵洪超 ;

李太福 ;

杨杰 ;

聂玲 ;

吴学颖 .

中国专利 :CN117541572A ,2024-02-09

[5]

一种电子元器件缺陷检测方法和设备 [P].

刘远飞 .

中国专利 :CN120125504A ,2025-06-10

[6]

电子元器件外壳缺陷检测方法及系统 [P].

吕宏峰 ;

王小强 ;

罗军 ;

刘磊 .

中国专利 :CN112730440A ,2021-04-30

[7]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560A ,2021-06-11

[8]

电子元器件缺陷检测方法、装置及系统 [P].

孙宸 ;

成立业 ;

黄云 ;

陈媛 ;

恩云飞 ;

路国光 ;

王力纬 .

中国专利 :CN112950560B ,2024-06-21

[9]

基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

高红霞 ;

李冠基 ;

陈山娇 ;

赵金辉 ;

李绍龙 .

中国专利 :CN117952924B ,2025-09-26

[10]

基于缺陷修复的无监督电子元器件表面缺陷检测方法 [P].

高红霞 ;

李冠基 ;

陈山娇 ;

赵金辉 ;

李绍龙 .

中国专利 :CN117952924A ,2024-04-30

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