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一种电子元器件表面缺陷识别方法
被引:0
申请号
:
CN202211169832.7
申请日
:
2022-09-26
公开(公告)号
:
CN115294314B
公开(公告)日
:
2022-12-30
发明(设计)人
:
杜坤香
申请人
:
申请人地址
:
226000 江苏省南通市如东县袁庄镇振兴路2号
IPC主分类号
:
G06V1010
IPC分类号
:
G06V10764
G06T700
G06T7136
G06T766
代理机构
:
代理人
:
法律状态
:
授权
国省代码
:
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法律状态
法律状态公告日
法律状态
法律状态信息
2022-12-30
授权
授权
2022-11-22
实质审查的生效
实质审查的生效 IPC(主分类):G06V 10/10 申请日:20220926
共 50 条
[1]
一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统
[P].
徐秋凤
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
徐秋凤
.
中国专利
:CN115311275A
,2022-11-08
[2]
一种电子元器件缺陷识别方法
[P].
赵臣龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
俐玛光电科技(北京)有限公司
俐玛光电科技(北京)有限公司
赵臣龙
.
中国专利
:CN118608523B
,2024-11-12
[3]
一种电子元器件缺陷识别方法
[P].
赵臣龙
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
俐玛光电科技(北京)有限公司
俐玛光电科技(北京)有限公司
赵臣龙
.
中国专利
:CN118608523A
,2024-09-06
[4]
一种基于机器学习的电子元器件识别方法
[P].
卢友彬
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
卢友彬
.
中国专利
:CN115359041A
,2022-11-18
[5]
一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统
[P].
徐鑫
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
南通朗顺智能科技有限公司
南通朗顺智能科技有限公司
徐鑫
.
中国专利
:CN117593273A
,2024-02-23
[6]
一种半导体表面缺陷识别方法
[P].
张晓军
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
张晓军
.
中国专利
:CN115274486B
,2022-12-13
[7]
一种注塑件表面缺陷识别方法
[P].
窦永城
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
窦永城
;
崔华
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
崔华
.
中国专利
:CN114998198A
,2022-09-02
[8]
一种电子元器件的缺陷检测方法
[P].
程伟
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
程伟
;
杨丽丹
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨丽丹
;
杨顺作
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨顺作
;
杨丽香
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨丽香
;
杨金燕
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨金燕
;
杨丽霞
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
杨丽霞
.
中国专利
:CN115018828A
,2022-09-06
[9]
一种电子元器件表面缺陷人工智能分析系统
[P].
王斌
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
中山市中庆科技有限公司
中山市中庆科技有限公司
王斌
.
中国专利
:CN121073940A
,2025-12-05
[10]
一种电子元器件瑕疵识别方法
[P].
郭名鹏
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖南云眼智能装备有限公司
湖南云眼智能装备有限公司
郭名鹏
;
王桂林
论文数:
0
引用数:
0
h-index:
0
机构:
湖南云眼智能装备有限公司
湖南云眼智能装备有限公司
王桂林
.
中国专利
:CN114518365B
,2025-05-30
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