一种电子元器件表面缺陷识别方法

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申请号
CN202211169832.7
申请日
2022-09-26
公开(公告)号
CN115294314B
公开(公告)日
2022-12-30
发明(设计)人
杜坤香
申请人
申请人地址
226000 江苏省南通市如东县袁庄镇振兴路2号
IPC主分类号
G06V1010
IPC分类号
G06V10764 G06T700 G06T7136 G06T766
代理机构
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共 50 条
[1]
一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
徐秋凤 .
中国专利 :CN115311275A ,2022-11-08
[2]
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赵臣龙 .
中国专利 :CN118608523B ,2024-11-12
[3]
一种电子元器件缺陷识别方法 [P]. 
赵臣龙 .
中国专利 :CN118608523A ,2024-09-06
[4]
一种基于机器学习的电子元器件识别方法 [P]. 
卢友彬 .
中国专利 :CN115359041A ,2022-11-18
[5]
一种电子元器件表面缺陷检测方法及系统 [P]. 
徐鑫 .
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[6]
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张晓军 .
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[7]
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崔华 .
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[8]
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程伟 ;
杨丽丹 ;
杨顺作 ;
杨丽香 ;
杨金燕 ;
杨丽霞 .
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[9]
一种电子元器件表面缺陷人工智能分析系统 [P]. 
王斌 .
中国专利 :CN121073940A ,2025-12-05
[10]
一种电子元器件瑕疵识别方法 [P]. 
郭名鹏 ;
王桂林 .
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